加入收藏 | 設為首頁 | 聯系我們
 
當前位置: 首頁 > 半導體測試系統詳細信息
PCT參數化波形記錄器配置
作者:admin    來源:原創    發布日期:2020-4-10 9:23:28   點擊次數:2634

開發和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態電流和電容測量。Keithley 高功率參數化波形記錄器系列的配置支持所有的設備類型和測試參數。Keithley 參數化波形記錄器配置包括檢定工程師快速開發全面測試系統所需的一切。

特點

  • 可現場升級和重新配置,將 PCT 轉換成可靠性或晶片分類測試儀
  • 可配置功率電平:
    • 200V 至 3kV
    • 1A 至 100A
  • 寬動態范圍:
    • µV 至 3kV
    • fA 至 100A
  • 全量程容-電壓 (C-V) 能力:
    • fF 至 µF
    • 支持 2、3 和 4 端器件
    • 高達 3kV DC 偏移
  • 高性能測試夾具支持一系列軟件包類型
  • 探頭測試臺接口支持最常見的探頭類型,包括 HV 同軸三線電纜、SHV 同軸電纜、標準同軸三線電纜等

型號 說明 高壓模式 大電流模式
2600-PCT-1B

低功率

200 V/10 A 200 V/10 A
2600-PCT-2B

高電流

200 V/10 A 40 V/50 A
2600-PCT-3B

高壓

3 kV/120 mA 200 V/10 A
2600-PCT-4B

高電流和高電壓

3 kV/120 mA 40 V/50 A



技術資料下載
關閉
電話:0531-88950687 傳真:0531-88950697 地址:濟南市歷下區解放路6號 魯ICP備08004993號

版權所有 濟南慧通達電子有限公司